Пошуковий запит: (<.>TJ=Вимірювальна техніка та метрологія<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 278
Представлено документи з 1 до 20
|
| |
1. |
Motalo V. P. Analysis of the measurement quality indexes // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2018. - Вип. 79 (ч. 2).
|
2. |
Sus B. Arduino based automated temperature controller system for cryostat // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2017. - Вип. 78.
|
3. |
Maslov A. Blood coagulation monitoring system // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2020. - Вип. 81, N 3.
|
4. |
Seredyuk B. O. Brief overview of the EPR spectra of In4Se3 intercalated by Cu // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2018. - Вип. 79 (ч. 1).
|
5. |
Yatsyshyn S. Calibration of the ultrasonic sensor-rangefinder by the laser interferometer // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2020. - Вип. 81, N 4.
|
6. |
Augustin S. Challenges of temperature measurement during the friction stir welding process // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2020. - Вип. 81, N 1.
|
7. |
Pohrebennyk V. Computer simulation of the influence of wind power plants on the compartments of the complex landscape system by the method of life cycle assessment // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2020. - Вип. 81, N 3.
|
8. |
Melnyk Kh. Development of liquid-in-tube microthermometers // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2018. - Вип. 79 (ч. 4).
|
9. |
Kostiukov I. Electrical capacitance measurement by scatter ellipse approximation // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2020. - Вип. 81, N 3.
|
10. |
Seredyuk B. O. Influence of the metallic impurities in A3B6 type layered semiconductors on their electrical, magnetic and structural properties // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2017. - Вип. 78.
|
11. |
Krayovskyy V. Investigation of thermometric material Ti1-xScxCoSb. Modeling of characteristics // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2020. - Вип. 81, N 1.
|
12. |
Микийчук М. М. IV Всеукраїнська науково-технічна конференція молодих вчених у царині метрології "Technical using of Measurement-2018" // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2018. - Вип. 79 (ч. 1).
|
13. |
Sydorko I. Management decisions in clinical laboratory diagnostics // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2019. - Вип. 80 (ч. 2).
|
14. |
Sydorko I. Management decisions in clinical laboratory diagnostics // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2019. - Вип. 80 (ч. 2).
|
15. |
Pokhodylo Ye. Means of measurement of relative quality indicators by immittance parameters // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2020. - Вип. 81, N 3.
|
16. |
Holyaka R. Measuring logarithmic signal converter for magnetic tracking systems // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2020. - Вип. 81, N 1.
|
17. |
Hots N. Method of increasing accuracy of infrared temperature measurement // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2019. - Вип. 80 (ч. 2).
|
18. |
Hots N. Method of increasing accuracy of infrared temperature measurement // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2019. - Вип. 80 (ч. 2).
|
19. |
Mamro O. Micro-service support by module architecture application of the service platform for OSGI Java additions // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2020. - Вип. 81, N 1.
|
20. |
Naumovych O. Modeling of human body tissues impedance components in frequency range // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб. - 2019. - Вип. 80 (ч. 4).
|
| |