РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
у знайденому
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнявидом документа
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (5)Наукова періодика України (2)
Пошуковий запит: (<.>A=Белый Н$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 31
Представлено документи з 1 до 20
...
1.

Веселовский В. Б. Математическое моделирование и расчет тепловых процессов в коммутационных устройствах. — 2000 // Вісн. Дніпропетр. ун-ту. Сер. Механіка.
2.

Белый Н. Г. Обзор: современные технические радиографические пленки для неразрушающего контроля. — 2001 // Техн. диагностика и неразрушающий контроль.
3.

Горбань И. С. Квантовая биэкситонная жидкость в кристаллах моноклинного ZnP2. — 2001 // Физика низ. температур.
4.

Белый Н. Г. Классификация пленочных систем для промышленной радиографии (новые национальные стандарты). — 2003 // Техн. диагностика и неразрушающий контроль.
5.

Узлов И. Г. Контроль процесса термомеханического упрочнения арматурного проката при помощи датчика магнитной фазы. — 2001 // Металлург. и горноруд. пром-сть.
6.

Узлов И. Г. Особенности формирования структуры и свойств сортового проката из малоуглеродистых и низколегированных сталей при низкотемпературных деформационно-термических обработках. — 2004 // Металлург. и горноруд. пром-сть.
7.

Белый Н. П. Пути снижения эксплуатационных расходов при ремонте проволочных и мелкосортных станов. — 2004 // Металл и литье Украины.
8.

Белый Н. Г. Радиографическая пленка фирмы KODAK типа INDUSTREX CX. — 2002 // Техн. диагностика и неразрушающий контроль.
9.

Жучков С. М. Совершенствование температурно-скоростных режимов прокатки на мелкосортном стане комбината "Криворожсталь". — 2004 // Металлург. и горноруд. пром-сть.
10.

Дмитренко О. П. Структура и оптические свойства пленок фуллеритов C60 при отжиге. — 2004 // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
11.

Белый Н. Г. Экспериментальные исследования радиографической пленки СТРУКТУРИКС F8 фирмы АГФА-ГЕВАРТ. — 2001 // Техн. диагностика и неразрушающий контроль.
12.

Узлов И. Г. Эффективные параметры производства сортового проката. — 2004 // Металлург. и горноруд. пром-сть.
13.

Дмитренко О. П. Структура и свойства пленок фуллеритов C60, допированных медью. — 2004 // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
14.

Дмитренко О. П. Радиационные повреждения и оптические свойства твердых пленок C60 с медью. — 2004 // Металлофизика и новейшие технологии.
15.

Белый Н. Г. Новые возможности радиографического контроля. — 2005 // Техн. диагностика и неразрушающий контроль.
16.

Белый Н. Г. Относительная чувствительность рентгенотелевизионных систем на основе высокочувствительных ПЗС-камер и рентгеновских монокристаллических экранов. — 2007 // Техн. диагностика и неразрушающий контроль.
17.

Дмитренко О. П. Электронная структура твердых пленок C60 - C70 и C60 - C70 - Cd при радиационных повреждениях. — 2005 // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
18.

Диякон Л. В. Дефекты структуры многослойных углеродных нанотрубок. — 2007 // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
19.

Ботте Т. Л. Корреляция колебательных мод и дисперсия фононных возбуждений в слоистых кристаллах графита и графитоподобного нитрида бора. 1. Классификация и корреляция фононных состояний с нулевым квазиимпульсом. — 2007 // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
20.

Губанов В. А. Корреляция колебательных мод и дисперсия фононных возбуждений в слоистых кристаллах графита и графитоподобного нитрида бора. 2. Дисперсия фононных состояний с ненулевым квазиимпульсом и ширина фононных зон. — 2007 // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
...
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського