Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>A=Weidner J$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
1. | ІВ200625 Weidner, Jörg-Oliver. Charakterisierung der Zuverlässigkeit von sub-mjum AlSiCu/TiN/Ti/n-Si-Kontakten bei hochbeschleunigten Lebensdauertests [Text] : Diss. / J. Weidner ; Universität Hannover. Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik. - Hannover : [б.в.], 1999. - 102 S.: Bild. - Бібліогр.: S.97-102Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Die Universität Hannover. Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Видання зберігається у :
|
|
|