|
|
ІВ227834
Limböck, Thorsten.
Investigation and tuning of organic thin films by methods of atomic force microscopy [Text] : diss. / Thorsten Limböck ; Mathematisch-Naturwissenschaftlichen Fak. der Univ. zu Köln. - Köln, 2019. - VIII, 221 p. : fig. - Бібліогр.: с. 201-212Рубрикатор НБУВ: УДК: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Universität zu Köln (Köln). Mathematisch-Naturwissenschaftlichen Fakultät
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|