ІВ219472
Baldauf, Tim.
Integration von Multi-Gate-Transistoren auf Basis einer 22 nm-Technologie [Text] : Diss. / Tim Baldauf ; Fak. Elektrotechnik und Informationstechnik der Techn. Univ. Dresden. - Dresden, 2014. - X, 187 S. : Abb. - Бібліогр.: с. 173-184

Рубрикатор НБУВ:
Тематичні рубрики:


Дод. точки доступу:
Technische Universität (Dresden). Fakultät Elektrotechnik und Informationstechnik

Видання зберігається у :
Основний фонд