MFI3273/1-2
Sirringhaus, Henning.
Ballistic-electron-emission microscopy on epitaxial CoSi2/Si interfaces [Text] : diss. / H. Sirringhaus ; Eidgenössische Technische Hochschule Zürich. - Zürich : [б.в.], 1995. - 124 p.: fig. - (Diss.ETH ; 11173)
2 mfishe

Рубрикатор НБУВ:
 В338.28,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
Eidgenössische Technische Hochschule Zürich

Видання зберігається у :