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ІВ200625
Weidner, Jörg-Oliver.
Charakterisierung der Zuverlässigkeit von sub-mjum AlSiCu/TiN/Ti/n-Si-Kontakten bei hochbeschleunigten Lebensdauertests [Text] : Diss. / J. Weidner ; Universität Hannover. Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik. - Hannover : [б.в.], 1999. - 102 S.: Bild. - Бібліогр.: S.97-102Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
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Die Universität Hannover. Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
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