|
|
ДС67094
Бойчук, Вадим Александрович.
Многоаспектный метод и алгоритмы генерации тестов комбинированного диагностирования микропроцессорных устройств [Текст] : дис... канд. техн. наук: 05.13.05 / Бойчук Вадим Александрович ; Технологический ун-т Подолья. - Хмельницкий, 2000. - 173 л. - л. 130-140Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Технологический университет Подолья (Хмельницкий)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|