|
|
ДС65871
Михайлик, Тетяна Аркадіївна.
Еліпсометрія надграток і розупорядкованих поверхонь монокристалів GaAs I Si [Текст] : дис...канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Михайлик Тетяна Аркадіївна ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників. - К., 2000. - 160 арк. - арк. 147-159Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Інститут фізики напівпровідників (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|