|
|
ВА671424
Дифрактометрия наноразмерных дефектов и гетерослоев кристаллов [Текст] / В. Б. Молодкин [и др.] ; Ин-т металлофизики им. Г. В. Курдюмова НАН Украины, Ин-т физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева НАН Украины, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе Рос. АН, Черновиц. нац. ун-т им. Ю. Федьковича, Кабардино-Балкар. гос. ун-т. - К. : Академпериодика, 2005. - 364 с.: рис., табл. - Библиогр.: с. 340-362. - ISBN 966-360-038-1Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Молодкин, Вадим Борисович; Низкова, Анна Ивановна; Шпак, Анатолий Петрович; Мачулин, Владимир Федорович; Кладько, Василий Петрвич; Национальная академия наук Украины; Институт металлофизики имени Г. В. Курдюмова (Киев); Институт физики полупроводников имени В. Е. Лашкарева (Киев); Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской АН (Санкт-Петербург); Черновицкий национальный университет имени Ю. ФедьковичаКабардино-Балкарский гос. университет
Видання зберігається у :
Основний фонд
Універсальний підсобний фонд
|
|