|
|
ДС49957
Раранський, Андрій Миколайович.
Рентгенівська дифрактометрія тонких приповерхневих шарів монокристалів [Текст] : дис... канд. фіз.- мат. наук: 01.04.07 / Раранський Андрій Миколайович ; Чернівецький держ. ун-т ім. Ю.Федьковича. - Чернівці, 1996. - 163 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Чернівецький державний університет імені Ю. Федьковича
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|