1. |
Physico-Technological Aspects of Degradation of Silicon Microwave Diodes : наукове видання / A. E. Belyaev [et al.] ; ed. A. E. Belyaev. - Kyiv : Akademperiodyka, 2011. - 182 p.. - (Project "Ukrainian Scientific Book in a Foreign Language"). - ISBN 978-966-360-176-2 : 105.00 р.Переклад назви: Фізико-технолгічні аспекти деградації кремнієвих НВЧ діодів ------------ Дод. точки доступу: Belyaev, A. E.; Boltovets, N. S.; Venger, E. F.; Konakova, R. V.; Kudryk, Ya. Ya.; Milenin, V. V.; Milenin, G. V.; Belyaev, A. E. (ed..)
|