Наноструктури сульфіду цинку було синтезовано хімічним шляхом для різних складів співвідношення Zn/S. XRD дослідження виявило полікристалічну гексагональну структуру для всіх зразків. Діаграма W - H показує розміри частинок в діапазоні від 29,54 нм до 41,36 нм і деформації від 0,021 до 0,026. Більший розмір частинок підтримує слабке квантове обмеження в зразках. Оптичні дослідження не виявили значного збільшення ширини забороненої зони. Використовуючи одновимірну модель слабкого обмеження одержано рівні переходу для емісії дефектів у видиму область.