Diamond films were deposited on WC - 3 % Co and WC - 6 % Co substrates via Hot Filament Chemical Vapor Deposition (HFCVD. Prior to the deposition, two-step surface pretreatment was carried out. The surface morphology, the texture and the adhesion of the diamond films were investigated by the use of Scanning Electron Microscope (SEM), Energy Diffraction Scanner (EDS) X-ray Diffractometer and Rockwell Hardness Tester, The results have shown that prolongation of the etching time using Murakami reagent reduces the surface cobalt more effectively. The roughness of the as-etched surface of the substrate is also increased accordingly, which results in a good adhesion between diamond film and the substrate. Under the same pretreatment conditions, the quality of the diamond coating on WC - 6 % Co samples is much better than that on WC - 3 % Co. The adhesion between diamond films and the cemented carbides can be greatly enhanced by reducing the content of cobalt on the surface of WC substrate.

Оцінено вплив просторового навчання в тесті з водним лабіринтом, обладнаним прихованою платформою, на процес соціального розпізнавання у старих щурів. Характеристики такого розпізнавання в контактах з новим сусідом по клітці порівнювалися до та після просторового навчання щурів у тесті з вказаним водним лабіринтом з платформою, а також з розпізнаванням у щурів, котрі тільки плавали у водному басейні лабіринту (без пошуків платформи). Старі щури з досвідом просторового навчання характеризувалися вірогідно вищим індексом соціального розпізнавання, ніж у тварин до набуття такого досвіду та у щурів з досвідом лише плавання (без просторового навчання). Таким чином, просторове навчання може помітно підвищувати здатності соціального розпізнавання у старих щурів.

Определены компоненты финансовых рисков в китайских иностранных инвестициях и приведена система индексирования рисков. Предложена система раннего предупреждения рисков на основе искусственной нейронной сети, а также сделан прогноз финансовых рисков в китайских иностранных инвестициях за 2009 г. для тестирования разработанной системы.

Досліджено залежність дегенерації нейронів та активації глії, індукованих епілептичним статусом (ЕС) у різних ділянках гіпокампа щурів від віку тварини і часу після розвитку ЕС, що розвивається. Щурятам лінії Вістар (постнатальні дні П7, П15 та П21) внутрішньоочеревинно ін'єкували сіль літію + пілокарпін для індукції ЕС або фізіологічний розчин для створення контролю. Щурят піддавали евтаназії через 2, 12, 24 год та через 3 або 7 діб після індукції ЕС. Нейродегенерацію в гіпокампі виявляли за допомогою забарвлення Флуоро-Джейд Б. Рівні експресії маркера астроцитів GFAP та маркера мікроглії Iba-1 оцінювали з використанням імуногістохімічних методів. У П7-щурят в ЕС будь-якого ушкодження нейронів на усіх відрізках часу не виявлялося. Через 2 год після індукції ЕС кількість дегенеруючих нейронів у гіпокампі щурят П15 суттєво підвищувалася в зоні CA1, а у П12-щурят це відбувалося в зонах CA1 і CA3. У щурят П15 та П21 дегенеруючі нейрони в зубчастій звивині з'являлися через 24 год. У щурят П7 не спостерігалося збільшення кількості GFAP- або Iba-1-позитивних клітин, зумовленого ЕС. Експресія GFAP у щурят П15 дуже сильно зростала в зонах CA1 та CA3 через 12 год. У той же час у таких щурят не відмічалося збільшення імунореактивності цього білка в зубчастій звивині. У щурят П21 даний індекс збільшувався в зонах CA1, CA3 та зубчастій звивині вже через 2 год після індукції ЕС. Кількість Iba-1-позитивних клітин у 3-х згаданих регіонах суттєво збільшувалась у щурят П15 через 12, а у тварин П21 - вже через 2 год. Ці результати вказують на те, що пов'язані з ЕС ушкодження нейронів та активація глії в незрілому мозку в цілому є менш інтенсивними, ніж у дорослому, а розвиток даних процесів у гіпокампі є специфічним у просторовому та часовому аспектах.

Індекс рубрикатора НБУВ: Р638.596-29

Рубрики:

Пошкодження поперекових і крижових нервів

Шифр НБУВ: Ж61875 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: Л463.8

Рубрики:

Синтетичний алмаз

Шифр НБУВ: Ж14159 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: К751.18

Рубрики:

Виробництво машин для збирання і обробки урожаю

Шифр НБУВ: Ж61773 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Описано новий метод визначення акрилоілхлориду у промислових продуктах шляхом дериватизації аніліну і газової хроматографії. У цьому методі як розчинник використано етилацетат, замість толуолу або бензолу. Точність і ступінь вилучення для цього методу становить 0,474 - 1,64 % і 95,3 - 98,2 %, відповідно, що навіть вище, ніж за стандартного аналізу. Цей метод також виключає процеси корозії і появи речовин, що подразнюють.

Індекс рубрикатора НБУВ: К66-141 + К391.91

Рубрики:

Корозія металів. Захист металів від корозії

Виробництво композитних металокерамічних матеріалів і виробів

Шифр НБУВ: Ж14159 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Through silicon via (TSV) is the key technology in a three-dimensional packaging structure. The thermal failure problem due to the thermal mismatch under thermal loads in TSVs limits its applicability. To study the thermal reliability, most researchers assume that the interface between silicon and copper is an ideal smooth plane. In fact, the TSV interface has a "scallop" profile sidewall which is formed in "Bosch" via etching process. Based on the analysis of TSV structure models with a "scallop" interface, both radial and shear stresses under thermal loads are simulated and the effects of rough interface on the stress distribution are analyzed. The results show that compared with the stress distribution in the TSV with smooth interface, the stress distribution in the TSV with "scallop" interface is obviously different; there are obvious stress discontinuity extreme points along the rough interface. The stress along the interface changes periodically in accordance to the "scallop" profile from the surface to the inside. The radial stress extreme points almost locate on the tips of the rough interface; the shear stress extreme points almost locate between the curve apex and the curve bottom. With increased interface roughness, the maximal radial and shear stresses also increase.

Індекс рубрикатора НБУВ: Л463.4

Рубрики:

Карбід бору. Нітрид бору

Шифр НБУВ: Ж14159 Пошук видання у каталогах НБУВ