Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком видання
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
Пошуковий запит: (<.>A=Moskal D$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 4
Представлено документи з 1 до 4

      
Категорія:    
1.

Moskal D.  
Formation of periodic structures in GaAs near-surface layers irradiated by laser pulse / D. Moskal, V. Nadtochy, M. Golodenko // Фотоэлектроника: Межвед. науч. сб. - 2005. - Вып. 14. - С. 105-107. - Библиогр.: 7 назв. - англ.

Periodic structures arising in a near-surface GaAs layer irradiated by ruby laser were found by metallographic method. Such structures can be obtained from suspended particles or heterogeneities of surface relief. Interference maxima and minima of radiation generate thermo-elastic stresses and stretching on chip surface, owing to which point defects are redistributed and defect-deformation near-surface structures are formed. The effect observed can be used to control directionally the properties of semiconductors near-surface layers.


Індекс рубрикатора НБУВ: З86-531.6

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж67522 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
2.

Romanyuk B. N. 
Evolution of recombination parameters of "solar" monocrystalline silicon due to thermal and getting treatments / B. N. Romanyuk, V. G. Popov, V. G. Litovchenko, N. I. Klyui, A. B. Romanyuk, V. I. Gorbulik, D. N. Moskal, S. G. Volkov // Functional Materials. - 1998. - 5, № 4. - С. 555-560. - Бібліогр.: 26 назв. - англ.

Досліджено ряд гетеруючих обробок пластин Cz-Si. Виміряно характерні рекомбінаційно-чутливі параметри кремнієвих пластин. Із застосованих процедур віддано перевагу гетеруючій обробці, що включає нанесення плівки Ge, йонно-променеве перемішування та термообробку і дозволяє підвищити довжину дифузії нерівноважних носіїв струму з 25 - 30 до 100 - 300 mu м, причому наступні термообробки не приводили до деградації дифузійної довжини (як це спостерігається на пластинах без гетеруючої обробки).


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.25

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
3.

Nadtochy V. 
Investigation of dislocations in Ge single crystals by scanning electron beam / V. Nadtochy, M. Golodenko, D. Moskal // Functional Materials. - 2004. - 11, № 1. - С. 40-43. - Бібліогр.: 10 назв. - англ.

Виконано порівняльний аналіз зображень дислокацій у монокристалічному Ge, одержаних за допомогою методів оптичної та сканувальної електронної мікроскопії. Результати обох методів добре узгоджуються між собою. За відсутності домішкової атмосфери ямка травлення або пляма зображення на дислокації мають діаметр ~1 мкм. Шляхом утворення електричного поля на поверхні можна досягти поляризації області просторового заряду навколо дислокації, а під час сканування цієї області електронним пучком - появи контрасту. Останнє дає можливість виділити дислокації за низькотемпературної деформації серед нейтральних домішкових включень у кристалі.


Індекс рубрикатора НБУВ: К235.230.21

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
4.

Moskal D. 
Periodic structure formation in GaAs near-surface layer by laser beam with diffraction modulated intensity / D. Moskal, V. Nadtochiy, N. Golodenko // Functional Materials. - 2006. - 13, № 1. - С. 100-104. - Бібліогр.: 22 назв. - англ.

За допомогою методу сіток розраховано термопружні напруження на поверхні GaAs, що виникають у процесі неруйнівного лазерного опромінювання з дифракційною просторовою модуляцією інтенсивності від непрозорого екрана з прямокутним вирізом. З використанням оптичного методу досліджено структуру опромінених приповерхневих шарів кристалів. Пошаровим хімічним травленням виявлено періодичні острівцеві структури, що утворені внаслідок дифузійного перерозподілу дефектів.


Індекс рубрикатора НБУВ: К230.25 + К230.91

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ 
 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського