Простий пошук
Розширений пошук
Алфавітні покажчики

Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Віртуальна довідка
Тематичний інтернет-навігатор
Наукова електронна бібліотека
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком видання
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
Пошуковий запит: (<.>A=Holiney R$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 3
Представлено документи з 1 до 3
      
Категорія:    
1.

Gorbach T. Ya. 
Electroreflectance spectroscopy and scanning electron microscopy study of microrelief silicon wafers with various surface pretreatments = Спектроскопія електровідбиття та скануюча електронна мікроскопія кремнієвих мікрорельєфних пластин з різними попередніми обробками поверхні / T. Ya. Gorbach, R. Yu. Holiney, I. M. Matiyuk, L. A. Matveeva, S. V. Svechnikov, E. F. Venger // Фізика напівпровідників, квантова та оптоелектроніка. - 1998. - 1, № 1. - С. 66-70. - Библиогр.: 9 назв. - англ.


Ключ. слова: silicon, cutting pretreatment, critical point energy, broading parameter
Індекс рубрикатора НБУВ: К68

Рубрики:
 Складання машин і механізмів 

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
2.

Groza A. A. 
Influence of the neutron irradiation on elctrooptical and structural properties of silicon / A. A. Groza, E. F. Venger, V. I. Varnina, R. Yu. Holiney, P. G. Litovchenko, L. A. Matveeva, A. P. Litovchenko, M. I. Starchik, V. I. Sugakov // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2001. - 4, № 3. - С. 152-155. - Бібліогр.: 16 назв. - англ.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.227

Рубрики:
 Радіаційні ефекти в напівпровідниках 

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
3.

Holiney R. Yu. 
Investigation of under-surface damaged layers in silicon wafers / R. Yu. Holiney, L. A. Matveeva, Ye. F. Venger // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 1999. - 2, № 4. - С. 10-12. - Бібліогр.: 11 назв. - англ.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.225

Рубрики:
 Поверхневі явища в напівпровідниках 

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 

 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського