Простий пошук
|
Розширений пошук
|
Алфавітні покажчики
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Віртуальна довідкаТематичний інтернет-навігаторНаукова електронна бібліотекаАвтореферати дисертаційРеферативна база данихКнижкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані видання
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
| Сортувати знайдені документи за: | ||
| автором | назвою | роком видання |
| Формат представлення знайдених документів: | ||
| повний | стислий | |
| Знайдено в інших БД: | Книжкові видання та компакт-диски (1) |
Пошуковий запит: (<.>A=Фодчук И$<.>) | ||||
|
Загальна кількість знайдених документів : 54 Представлено документи з 1 до 20 |
||||
| ||||
| 1. | Фодчук И. М. Влияние одномерных деформаций на формирование изображений микродефектов на рентгеновских секционных топограммах / И. М. Фодчук, Н. Д. Раранский, С. Н. Новиков, С. В. Бобровник // Металлофизика и новейшие технологии. - 2000. - 22, № 1. - С. 69-76. - Библиогр.: 6 назв. - рус. Числовим рішенням системи рівнянь Такагі досліджено вплив модельних спотворень вихідної та вхідної поверхонь на формування зображень мікродефектів на секційних топограмах у кристалах Si. У випадку слабкого експоненціального згину вхідної поверхні кристала відбувається підсилення прямої складової зображення, розмиття проміжної і підсилення або заглушення динамічної складової зображення - в залежності від місця знаходження мікродефекту. У разі експоненціального згину відбиваючих площин спостережено заглушення прямої складової зображення і перекидання інтенсивності в центр проміжної області зображення. Ключ. слова: рентгеновская топография, динамическое рассеяние рентгеновских лучей Індекс рубрикатора НБУВ: В379.221 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 2. | Раранский Н. Д. Маятниковые полосы в искаженных кристаллах / Н. Д. Раранский, И. М. Фодчук, Я. М. Струк, С. В. Бобровник // Металлофизика и новейшие технологии. - 2000. - 22, № 9. - С. 39-45. - Библиогр.: 12 назв. - рус. Експериментально і за допомогою числового розв'язання рівнянь Такагі досліджено вплив слабких і сильних спотворень, створених дією зосередженого навантаження, на формування товщинних осциляцій інтенсивності в клиноподібному та плоскопаралельному кристалах кремнію. Показано, що у випадку слабких деформацій на формування маятникових смуг впливають процеси розсіяння, які обумовлюють згин і фокусування (дефокусування) траєкторій рентгенівських променів під час проходження крізь середовище зі змінним показником заломлення. В області сильних спотворень - процеси міжгілкового розсіяння. Ключ. слова: маятниковые полосы, искаженные кристаллы, толщинные осцилляции интенсивности, клиновидный и плоскопараллельный кристаллы кремния Індекс рубрикатора НБУВ: В379.222 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 3. | Фодчук И. М. Влияние одномерных деформаций на эффект Бормана в случае трехволновой дифракции рентгеновских лучей / И. М. Фодчук, М. Д. Борча, Н. Д. Раранский, Л. Л. Гультай // Металлофизика и новейшие технологии. - 1999. - 21, № 12. - С. 56-60. - Библиогр.: 11 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 4. | Гультай Л. Л. Влияние периодических деформаций кристалла на трехволновое аномальное прохождение рентгеновских лучей / Л. Л. Гультай, И. М. Фодчук, М. Д. Борча, Н. Д. Раранский, И. В. Михалев // Металлофизика и новейшие технологии. - 1999. - 21, № 10. - С. 69-74. - Библиогр.: 12 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 5. | Раранский Н. Д. Изображения микродефектов на рентгеновских секционных топограммах в акустически возбужденном кристалле / Н. Д. Раранский, В. Б. Молодкин, И. М. Фодчук, С. Н. Новиков, С. В. Бобровник // Металлофизика и новейшие технологии. - 2000. - 22, № 3. - С. 26-32. - Библиогр.: 13 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 6. | Фодчук И. М. Исследование структурных изменений в кристаллах при ионной имплантации / И. М. Фодчук, Н. Д. Раранский, А. Г. Гимчинский, А. В. Евдокименко, З. Т. Кузницкий, З. Свянтек // Металлофизика и новейшие технологии. - 1999. - 21, № 8. - С. 40-45. - Библиогр.: 11 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 7. | Докторович И. В. Оптический аттенюатор / И. В. Докторович, И. М. Фодчук, В. К. Бутенко, В. Н. Годованюк, В. Г. Юрьев // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2005. - № 1. - С. 36-37. - Библиогр.: 6 назв. - pyc. Описан прецизионный оптический аттенюатор, предназначенный для использования в установках измерения параметров передающих и приемных модулей волоконно-оптических линий связи. A precision optical attenuator intended for application in units for parameters measurement of fiber-optics communication lines transmitting and receiving modules is described. Індекс рубрикатора НБУВ: З842.1-54 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 8. | Докторович И. В. Методика калибровки УФ-радиомеров энергетической освещенности / И. В. Докторович, В. К. Бутенко, В. Н. Годованюк, И. М. Фодчук, В. Г. Юрьев // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2008. - № 1. - С. 57-61. - Библиогр.: 61 назв. - рус. Рассмотрены проблемы, возникающие при калибровке узкополосных по спектральной чувствительности радиометров. Приведена методика передачи размера единицы энергетической освещенности УФ-радиометрам - методика их калибровки. The paper desls with the problems arising at calibration of narrow-band spectral-sensitive radiometers. The procedure of irradiance unit transfer to UV radiometers. UV radiometers calibration procedure is precented. Індекс рубрикатора НБУВ: З842.22-56 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 9. | Фодчук И. М. Метрологические характеристики яркомера "Тензор-28" / И. М. Фодчук, И. В. Докторович, В. Н. Годованюк, В. К. Бутенко, В. Г. Юрьев // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2007. - № 6. - С. 62-64. - Библиогр.: 15 назв. - рус. Приведены результаты исследований метрологических характеристик яркомера "Тензор-28", предназначенного для измерения средней яркости экранов кинескопов и других самоизлучающих поверхностей. The investigated results of Tensor-28 luminance meter metrological characteristics are presented. Ключ. слова: яркомер, монитор, яркость Індекс рубрикатора НБУВ: В341.3 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 10. | Новиков С. Н. Влияние акустического поля на кристаллы, содержащие дислокации и микродефекты / С. Н. Новиков, Н. Д. Раранский, Д. Г. Федорцов, И. М. Фодчук // Металлофизика и новейшие технологии. - 2002. - 24, № 2. - С. 197-202. - Библиогр.: 7 назв. - рус. На підставі числового розв'язку системи рівнянь Такагі досліджено рентгеноакустичну взаємодію в кристалах, які містять одночасно незначні концентрації мікродефектів і дислокацій, та визначено вплив цих дефектів на інтегральні характеристики структурної досконалості реальних кристалів. Ключ. слова: ультразвук, дифракционный контраст, микродефекты, секционные топограммы, структурное совершенство кристаллов Індекс рубрикатора НБУВ: К202 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 11. | Борча М. Д. Влияние эффекта окольного возбуждения на многоволновое рентгеновское аномальное прохождение в бинарных кристаллах с деформированным слоем / М. Д. Борча, О. А. Ткач, И. М. Фодчук // Металлофизика и новейшие технологии. - 2002. - 24, № 5. - С. 629-637. - Библиогр.: 5 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 12. | Молодкин В. Б. Двухкристальная рентгеновская дифрактометрия наноразмерных многослойных систем / В. Б. Молодкин, Е. Н. Кисловский, С. И. Олиховский, И. М. Фодчук, В. Б. Гевик, Б. Ф. Журавлев // Металлофизика и новейшие технологии. - 2003. - 25, № 12. - С. 1605-1616. - Библиогр.: 31 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 13. | Фодчук И. М. Муаровые изображения дефектов в рентгеновской трехкристальной интерферометрии / И. М. Фодчук, Н. Д. Раранский, Я. М. Струк, И. В. Фесив // Металлофизика и новейшие технологии. - 2002. - 24, № 5. - С. 617-628. - Библиогр.: 21 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 14. | Баловсяк С. В. Определение параметров рельефа поверхности твердого тела в случае полного внешнего отражения рентгеновских лучей / С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук // Металлофизика и новейшие технологии. - 2003. - 25, № 7. - С. 885-897. - Библиогр.: 8 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 15. | Баловсяк С. В. Определение рельефа поверхности кристаллов методом дифференциальных кривых полного внешнего отражения рентгеновских лучей / С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, П. М. Литвин // Металлофизика и новейшие технологии. - 2003. - 25, № 7. - С. 899-914. - Библиогр.: 11 назв. - рус. Представлено результати експериментальних і теоретичних досліджень поверхні кристалів GaAs зі спеціально підготованим одно- та двовимірним рельєфом поверхні за допомогою методу диференціальних кривих повного зовнішнього відбивання (ДК ПЗВ) рентгенівських променів. Використовуючи аналіз серії експериментальних диференціальних кривих гойдання (ДКГ) з урахуванням даних, одержаних за допомогою методу атомно-силової мікроскопії, розв'язано пряму й обернену задачі - відновлено параметри рельєфу поверхні та розраховано теоретичні ДКГ. Відзначено задовільне узгодження параметрів рельєфу, одержаних за допомогою методів ДК ПЗВ та атомно-силової мікроскопії. Ключ. слова: полное внешнее отражение рентгеновских лучей, рельеф поверхности, кривые качания, фракталы Індекс рубрикатора НБУВ: В372.5 + В372.13 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 16. | Фодчук И. М. Структура многослойных систем InVIxDGaVI1-xDAsVI1-yDN/GaAs по данным двухкристальной рентгеновской дифрактометрии / И. М. Фодчук, О. П. Кройтор, В. Б. Гевик, О. Г. Гимчинский, В. Б. Молодкин, Е. Н. Кисловский, С. И. Олиховский, М. Песса, Е. М. Павелеску // Металлофизика и новейшие технологии. - 2003. - 25, № 9. - С. 1219-1231. - Библиогр.: 25 назв. - рус. За допомогою методу високороздільної рентгенівської дифрактометрії проведено дослідження багатошарових напівпровідникових структур із квантовою ямою. Шляхом моделювання одержаних кривих дифракційного відбиття визначено ступінь міжшарової взаємодифузії до і після відпалу. Визначено вміст азоту в квантовій ямі та зміну його концентрації в залежності від умов вирощування. Ключ. слова: рентгеновская дифрактометрия, кривые дифракционного отражения, кривые качания, многослойники, взаимная диффузия, квантовая яма, квантоворазмерные лазеры Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 17. | Гимчинский А. Г. Структурные изменения в кристаллах после облучения высокоэнергетическими электронами / А. Г. Гимчинский, Т. Г. Гуцуляк, И. М. Фодчук, Н. Д. Раранский, В. Т. Маслюк, В. П. Омельянчук // Металлофизика и новейшие технологии. - 2002. - 24, № 4. - С. 533-539. - Библиогр.: 12 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 18. | Борча М. Д. Формирование профиля интенсивности линии Косселя в кристаллах с периодическим распределением деформации / М. Д. Борча, О. С. Кшевецкий, В. Н. Ткач, О. О. Ткач, И. М. Фодчук // Металлофизика и новейшие технологии. - 2004. - 26, № 2. - С. 229-240. - Библиогр.: 17 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 19. | Литвинчук И. В. Структурные изменения в пористых кристаллах после ионной имплантации / И. В. Литвинчук, И. М. Фодчук, З. Свянтек, Т. П. Владимирова, Е. Н. Кисловский, В. Б. Молодкин // Металлофизика и новейшие технологии. - 2004. - 26, № 8. - С. 1069-1080. - Библиогр.: 26 назв. - рус. За допомогою методів рентгенівської дифрактометрії досліджено структурні зміни в поверхневому шарі кристалів, підданих різним видам технологічних обробок: іонній імплантації, хімічному травленню. Виявлено кількісну відмінність у товщинних залежностях деформації, значеннях максимальної деформації, ступені пошкодженості та протяжності області пружних деформацій після різних етапів обробки. Спостерігається суттєва зміна спектра фотолюмінесценції в пористому шарі після імплантації іонів фосфору. Ключ. слова: ионная имплантация, пористый кристалл, фотолюминесценция, рентгеновская дифракция Індекс рубрикатора НБУВ: В372 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 20. | Венгер В. Н. Изменение дефектной структуры кристаллов после облучения высокоэнергетическими электронами и $E bold gamma-квантами / В. Н. Венгер, А. А. Белоцкая, А. И. Гранкина, В. В. Довганюк, А. И. Низкова, И. М. Фодчук // Металлофизика и новейшие технологии. - 2006. - 28, № 8. - С. 1031-1040. - Библиогр.: 18 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| ||||
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського