Простий пошук
|
Розширений пошук
|
Алфавітні покажчики
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Віртуальна довідкаТематичний інтернет-навігаторНаукова електронна бібліотекаАвтореферати дисертаційРеферативна база данихКнижкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані видання
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
| Сортувати знайдені документи за: | ||
| автором | назвою | роком видання |
| Формат представлення знайдених документів: | ||
| повний | стислий | |
| Знайдено в інших БД: | Книжкові видання та компакт-диски (1) |
Пошуковий запит: (<.>A=Опилат В$<.>) | ||||
|
Загальна кількість знайдених документів : 17 Представлено документи з 1 до 17 |
||||
| 1. | Литовченко П. Г. Деградація $Ebold { roman Al sub x roman Ga sub {1~-~x } }As/GaAs гетеростуктур у $Egamma-полі $Eroman bold {Co sup 60 } / П. Г. Литовченко, В. П. Тартачник, В. Я. Опилат, С. О. Каневський, І. В. Петренко, О. П. Шахов, Р. К. Савкіна, О. Б. Смірнов, С. І. Круковський // Фізика і хімія твердого тіла. - 2003. - 4, № 3. - С. 474-480. - Бібліогр.: 17 назв. - укp.
Шифр НБУВ: Ж26618 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 2. | Корець М. С. Використання нових інформаційних технологій при викладанні технічних навчальних дисциплін : Навч.-метод. посіб. / М. С. Корець, В. Я. Опилат, І. Г. Трегуб. - К. : НПУ, 2005. - 105 c. - Бібліогр.: с. 103. - укp. На підставі узагальнення літературних джерел висвітлено проблеми дистанційного навчання, розглянуто психолого-педагогічні аспекти навчальних програм і функції навчального комп'ютера як засобу моделювання діяльності. Наведено вихідні дані для розробки комп'ютерних програм, описано програми для комп'ютерної підтримки в процесі виконання типових лабораторних робіт з технічної механіки, машинознавства та засад виробництва. На основе обобщения литературных источников освещены проблемы дистанционного обучения, рассмотрены психолого-педагогические аспекты учебных программ и функции учебного компьютера как средства моделирования деятельности. Приведены исходные данные для разработки компьютерных программ, описаны программы для компьютерной поддержки при выполнении лабораторных работ по технической механике, машиноведению и основам производства. Індекс рубрикатора НБУВ: Ж.р(4УКР)3-3 Рубрики: Шифр НБУВ: ВА672972 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 3. | Опилат В. Я. Використання компенсаційних немостових схем для вимірювання релаксуючої складової ємності в автоматизованих установках / В. Я. Опилат, С. О. Канєвський, О. В. Харченко, І. В. Опилат // Фізика і хімія твердого тіла. - 2004. - 5, № 4. - С. 840-844. - Бібліогр.: 7 назв. - укp. Зроблено огляд існуючих мостових схем вимірювачів ємності, індуктивності та фази. Запропоновано нову схему швидкодіючого автоматичного вимірювача ємності з відслідковуючим зв'язком і виділенням релаксаційної компоненти. Описано блок-схему й алгоритм роботи. Ключ. слова: мостова схема, релаксаційні процеси, вимірювач ємності, компенсація ємності, релаксуюча складова, немостова схема Індекс рубрикатора НБУВ: З221.8 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж26618 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 4. | Литовченко П. Г. Випромінювальна рекомбінація в опроміненому фосфіді галію / П. Г. Литовченко, В. С. Манжара, В. Я. Опилат, І. В. Петренко, В. П. Тартачник, В. М. Шапар // Фізика і хімія твердого тіла. - 2005. - 6, № 1. - С. 50-56. - Бібліогр.: 9 назв. - укp.
Шифр НБУВ: Ж26618 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 5. | Дубовий В. К. Вплив нейтронного опромінення на зворотні струми фосфідо-галієвих світлодіодів / В. К. Дубовий, В. І. Кочкін, В. Я. Опилат, І. В. Петренко, В. П. Тартачник // Укр. фіз. журн. - 2007. - 52, № 2. - С. 175-179. - Бібліогр.: 13 назв. - укp.
Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 6. | Коляденко І. В. Деградація фосфідо-галієвих світлодіодів, обумовлена радіаційними дефектами / І. В. Коляденко, П. Г. Литовченко, В. Я. Опилат, І. В. Петренко, В. П. Тартачник, В. І. Хіврич // Фізика і хімія твердого тіла. - 2006. - 7, № 1. - С. 184-188. - Бібліогр.: 17 назв. - укp.
Шифр НБУВ: Ж26618 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 7. | Опилат В. Я. Неруйнівний контроль деградаційно-релаксаційних процесів у фосфідо-галієвих світлодіодах / В. Я. Опилат, В. П. Тартачник, М. В. Худецький, Ю. А. Макота // Методи та прилади контролю якості. - 2006. - Вип. 17. - С. 28-31. - Бібліогр.: 12 назв. - укp. Описано деградаційно-релаксаційні процеси у світлодіодах GaP, зумовлені ультразвуковою обробкою. Виявлено ефект оборотності деградаційного процесу. В основі досліджуваного явища лежить формування нестабільних дислокаційних сіток. Метод ультразвукової обробки можна застосовувати з метою виявлення мікродефектів структури у напівпровідникових приладах. Індекс рубрикатора НБУВ: З852.27-7с108 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж16570 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 8. | Конорева О. В. Неруйнівний контроль структурних дефектів у вихідних та опромінених реакторними нейтронами фосфідо-галієвих світлодіодах / О. В. Конорева, В. Я. Опилат, М. Б. Пінковська, В. Ю. Попов, М. С. Решетнік, В. П. Тартачник // Методи та прилади контролю якості. - 2006. - Вип. 17. - С. 24-27. - Бібліогр.: 10 назв. - укp.
Шифр НБУВ: Ж16570 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 9. | Гришин Ю. Г. Електрооптичні властивості вихідних та опромінених фосфідогалієвих IBp - nD-переходів / Ю. Г. Гришин, Н. В. Друзенко, О. В. Конорева, О. О. Мосолаб, В. Я. Опилат, В. П. Тартачник, Л. В. Ушата // Металлофизика и новейшие технологии. - 2008. - 30, спец. вып. - С. 77-84. - Бібліогр.: 8 назв. - укp.
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 10. | Третяк О. В. До питання про визначення поперечного перерізу захоплення носіїв заряду методом DLTS / О. В. Третяк, В. Я. Опилат, Ю. В. Бойко, Д. Б. Грязнов, І. О. Деркач, В. Ю. Поварчук // Сенсор. електрон. і мікросистем. технології. - 2010. - 1, № 1. - С. 43-51. - Бібліогр.: 20 назв. - укp. На підставі аналізу способів визначення термічного поперечного перерізу захоплення дефектом носіїв заряду зі спектрів DLTS розкрито можливі причини суттєвих похибок при визначенні даного параметра. Окреслено межі застосовності кожного зі способів за рядом критеріїв - характеристики досліджуваної напівпровідникової структури, термічна залежність поперечного перерізу захоплення, тощо. Сформульовано вимоги до апаратної частини та запропоновано схему DLTS спектрометра, здатного реалізувати один з прямих способів визначення поперечного перерізу захоплення носіїв. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.222 + В379.271 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж24835 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 11. | Гришин Ю. Г. До питання про природу струмових нестабільностей у світлодіодах GaP / Ю. Г. Гришин, В. І. Кочкін, П. Г. Литовченко, В. Я. Опилат, В. П. Тартачник // Фізика і хімія твердого тіла. - 2009. - 10, № 3. - С. 715-719. - Бібліогр.: 14 назв. - укp.
Шифр НБУВ: Ж26618 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 12. | Грязнов Д. Б. Адаптація методу штучних нейронних мереж до аналізу сигналів релаксаційної спектроскопії глибоких рівнів / Д. Б. Грязнов, С. А. Корінь, В. Я. Опилат, О. В. Третяк // Сенсор. електрон. і мікросистем. технології. - 2012. - 3, № 4. - С. 81-88. - Бібліогр.: 17 назв. - укp. На основі аналізу недоліків класичних методів обробки сигналів РСГР (релаксаційна спектроскопія глибоких рівнів) запропоновано альтернативний алгоритм, що базується на перевагах методу штучних нейронних мереж. Доведено правомірність його застосування для дослідження простих моделей з одним глибоким рівнем та стійкість до значного рівня зашумленості сигналу. Індекс рубрикатора НБУВ: В344.1 в661 + З810.22 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж24835 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 13. | Конорева О. В. Особливості струмових нестабільностей фосфідо-галієвих світлодіодів, опромінених нейтронами / О. В. Конорева, В. Ф. Ластовецький, П. Г. Литовченко, В. Я. Опилат, Ю. Г. Гришин, І. В. Петренко, М. Б. Пінковська, В. П. Тартачник // Доп. НАН України. - 2008. - № 3. - С. 71-76. - Бібліогр.: 9 назв. - укp. GaP LEDs with atypical current characteristics are studied by optical and electrical methods. The thin structure of an S-shaped NDR region which appears in the current-voltage characteristics at low temperatures (100 - 77 K) after irradiation has become more expressive and possesses the higher oscillation amplitude. The high destructive influence of fast neutrons on the emitting recombination is caused by two factors: the electrical fields of radiation defects and the capture of charged carriers by their levels. Індекс рубрикатора НБУВ: З852.27 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж22412/а Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 14. | Сизов Ф. Ф. Вплив нейтронного опромінення на характеристики світлодіодів $E bold {{roman Al} sub x {roman Ga} sub 1-x roman As} / Ф. Ф. Сизов, Ю. Г. Гришин, С. І. Круковський, В. Я. Опилат, І. В. Петренко, Р. К. Савкіна, О. Б. Смірнов, В. П. Тартачник // Доп. НАН України. - 2009. - № 5. - С. 87-93. - Бібліогр.: 15 назв. - укp.
Шифр НБУВ: Ж22412/а Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 15. | Вишневський М. І. Вплив нейтронного опромінення на вольтамперні характеристики фосфідо-галієвих світлодіодів / М. І. Вишневський, О. В. Конорева, В. І. Кочкін, В. Ф. Ластовецький, П. Г. Литовченко, В. Я. Опилат, В. П. Тартачник // Доп. НАН України. - 2010. - № 6. - С. 69-74. - Бібліогр.: 15 назв. - укp.
Шифр НБУВ: Ж22412/а Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 16. | Ільченко В. В. Застосування статистичних методів для аналізу складних релаксаційних спектрів - як засіб удосконалення методики DLTS / В. В. Ільченко, І. В. Ліщук, В. Я. Опилат, С. В. Тищенко // Сенсор. електроніка і мікросистем. технології. - 2019. - 16, № 4. - С. 72-80. - Бібліогр.: 12 назв. - укp. Створено апаратну платформу для підтримки кількох методик, яка дозволяє окрім дослідження параметрів глибокорівневих дефектів (DLTS), одержати температурні залежності форми C - V та I - V-характеристик. Розроблено алгоритми застосування статистичних методів для обробітку експериментальних даних для методики DLTS. Результати тестування програмного продукту засвідчили високу точність декомпозиції складного релаксаційного спектру і високу стійкість до амплітуди шумів. Індекс рубрикатора НБУВ: З970.632 + В323.2 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж24835 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 17. | Ільченко В. В. Застосування статистичних методів для аналізу складних релаксаційних спектрів - як засіб удосконалення методики DLTS / В. В. Ільченко, І. В. Ліщук, В. Я. Опилат, С. В. Тищенко // Сенсор. електроніка і мікросистем. технології. - 2019. - 16, № 4. - С. 72-80. - Бібліогр.: 12 назв. - укp. Створено апаратну платформу для підтримки кількох методик, яка дозволяє окрім дослідження параметрів глибокорівневих дефектів (DLTS), одержати температурні залежності форми C - V та I - V-характеристик. Розроблено алгоритми застосування статистичних методів для обробітку експериментальних даних для методики DLTS. Результати тестування програмного продукту засвідчили високу точність декомпозиції складного релаксаційного спектру і високу стійкість до амплітуди шумів. Індекс рубрикатора НБУВ: З970.632 + В323.2 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж24835 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського