На основі теплових випробувань бортових систем кріоустаткування виявлено, що ефективний коефіцієнт теплопровідності екрано-вакумної теплоізоляції (ЕВТІ) на кріогенних трубопроводах малих діаметрів (до 12 мм) у 5 - 10 разів перевищував ефективний коефіцієнт теплопровідності ЕВТІ на кріогенних посудинах. З метою вирішення даної проблеми теоретично пояснено причини цього явища. Кількісно оцінено механізми теплообміну та складові частини кожного механізму. З'ясовано, що головною причиною, яка призводить до втрати ефективності ЕВТІ кріотрубопроводів, є низький контактний термічний опір, зумовлений появою напружено-деформованого стану багатошарової циліндричної оболонки ЕВТІ під час монтажу. Науково обгрунтувано температурний та часовий режими прогріву, використання котрих дозволило довести величину ефективного коефіцієнта теплопровідності ЕВТІ на кріотрубопроводах малих діаметрів до значень, здобутих на кріогенних посудинах.