Неспрядько В. П. Дослідження змін геометричних параметрів силіконових відбитків під впливом двох методів дезінфекції / В. П. Неспрядько, В. О. Шевчук, М. Д. Омельяненко // Лікар. справа. - 2013. - № 4. - С. 98-105. - Бібліогр.: 19 назв. - укp.
У лабораторному експериментальному дослідженні оцінено вплив 2-х методів дезінфекції на зміни лінійних розмірів силіконових відбитків та виготовлених за ними гіпсових моделей у порівнянні з незмінними параметрами експериментальної металевої майстер-моделі "Еталон 2". Порівнювали традиційний хімічний метод дезінфекції та фізичний у вигляді мікрохвильової енергії з використанням установки плавного регулювання потужності НВЧ-випромінювання "mu-УндаДент".