Простий пошук
|
Розширений пошук
|
Алфавітні покажчики
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Віртуальна довідкаТематичний інтернет-навігаторНаукова електронна бібліотекаАвтореферати дисертаційРеферативна база данихКнижкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані видання
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
| Сортувати знайдені документи за: | ||
| автором | назвою | роком видання |
| Формат представлення знайдених документів: | ||
| повний | стислий | |
| Знайдено в інших БД: | Книжкові видання та компакт-диски (5) |
Пошуковий запит: (<.>U=В346.34$<.>) | |||||
|
Загальна кількість знайдених документів : 12 Представлено документи з 1 до 12 |
|||||
| 1. | Молодкін В. Б. Лауe-дифракція рентгенівських променів в пружно вигнутих монокристалах з однорідно розподіленими мікродефектами. I. Когерентне розсіяння / В. Б. Молодкін, С. Й. Оліховський, О. М. Костюк, Л. Г. Ткачук // Металлофизика и новейшие технологии. - 2001. - 23, № 7. - С. 861-875. - Бібліогр.: 34 назв. - укp.
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 2. | Раранський М. Д. Дифракційна оптика Х-хвиль : підруч. / М. Д. Раранський, Я. М. Струк; Чернів. нац. ун-т ім. Ю.Федьковича. - Чернівці : Рута, 2007. - 156 c. - укp. Розглянуто фізичні основи дифракційних методів дослідження структури кристалів. Описано природу виникнення та спектральні характеристики X-хвиль. В межах кінематичної теорії дифракції розглянуто розсіяння електроном, атомом, елементарною коміркою та кристалом. Проаналізовано розсіяня та поглинання X-хвиль з урахуванням впливу температури та дисперсії на інтенсивність дифракційних максимумів. Описано класичні експериментальні методи дослідження реальної структури кристалічних тіл. Проаналізовано особливості та недоліки кінематичної теорії дифракції. Рассмотрены физические основы дифракционных методов исследования структуры кристаллов. Описаны природа возникновения и спектральные характеристики X-волн. В пределах кинематической теории дифракции рассмотрено рассеивание электроном, атомом, элементарной ячейкой и кристаллом. Проанализировано рассеивания и поглощения X-волн с учетом влияния температуры и дисперсии на интенсивность дифракционных максимумов. Описаны классические экспериментальные методы исследования реальной структуры кристаллических тел. Проанализированы особенности и недостатки кинематической теории дифракции. Індекс рубрикатора НБУВ: В346.34я73-1 + В372.134я73-1 Шифр НБУВ: ВА694314 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 3. | Дышеков А. А. Динамическая дифракция рентгеновских лучей в сверхрешетках / А. А. Дышеков, Ю. П. Хапачев // Успехи физики металлов. - 2001. - 2, № 4. - С. 281-351. - Библиогр.: 116 назв. - рус. Наведено огляд робіт з динамічного розсіювання рентгенівських променів у гетероепітаксійних та акустичних надгратках. Розглянуто основні підходи до опису динамічної дифракції в металевих і напівпровідникових надгратках. Значну увагу приділено формалізму зон стійких і нестійких розв'язків системи рівнянь Такаги для надграток, який базується на методах якісної теорії диференціальних рівнянь. Викладено загальні якісні підходи до аналізу особливостей дифракції в надгратках різноманітних моделей, заснованих на концепції єдиної параметризації характеристик надгратки та хвильового поля. Формалізм зонних діаграм дозволив класифікувати параметри теорії динамічної дифракції в надгратках на "зовнішні" та "внутрішні". Розвинутий формалізм дозволяє визначити структурні характеристики надгратки за виглядом кривої дифракційного відбиття. Ключ. слова: динамическое рассеяние рентгеновских лучей, дифракционное отражение, гетероэпитаксиальная и акустическая сверхрешетки Індекс рубрикатора НБУВ: В378.4 + В379.24 + В346.34 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж23022 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 4. | Малыхин Д. Г. Разделение микроструктурных эффектов дифракции по полуширине рентгеновских линий / Д. Г. Малыхин, В. В. Корнеева, Т. Ю. Гуральник // Вісн. Харк. нац. ун-ту. Сер. фіз. "Ядра, частинки, поля". - 2008. - N 808, вип. 2. - С. 77-80. - Библиогр.: 6 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж29137 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 5. | Galtsov N. N. Intercalation of fullerite CVB60D with NVB2D molecules. An investigation by x-ray powder diffraction / N. N. Galtsov, A. I. Prokhvatilov, G. N. Dolgova, D. Cassidy, G. E. Gadd, S. Moricca, B. Sundqvist // Физика низ. температур. - 2007. - 33, № 10. - С. 1159-1165. - Библиогр.: 37 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 6. | Гультай Л. Л. Вплив одномірних деформаційних полів на дво- та багатохвильову дифракцію рентгенівських променів : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Л. Л. Гультай; Чернів. держ. ун-т ім. Ю.Федьковича. - Чернівці, 1999. - 20 c. - укp. - рус.
Шифр НБУВ: РА306295 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 7. | Новіков С. М. Дифракційні зображення скупчень з крайових дислокацій на секційних Х-променевих топограмах / С. М. Новіков, А. Я. Струк, І. М. Фодчук // Металлофизика и новейшие технологии. - 2010. - 32, № 9. - С. 1245-1257. - Бібліогр.: 28 назв. - укp. Досліджено особливості формування дифракційних зображень комплексів із крайових дислокацій, які утворюють скупчення (з двох, трьох і більше дислокацій), а також малокутові дислокаційні межі (стінки). Виявлено різноманітні за інтенсивністю інтерференційні ефекти перерозсіяння та внутрішнього відбивання породжених і вже існуючих хвильових полів на товщинних розподілах інтенсивності у випадку наявності в одній і тій же площині ковзання крайових дислокацій з паралельними і антипаралельними Бюргерсовими векторами. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.3 + В346.34 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 8. | Bratos S. Convolution problems in time-resolved x-ray diffraction / S. Bratos, J. -Cl. Leicknam // Укр. фіз. журн. - 2012. - 57, № 2. - С. 133-139. - Библиогр.: 20 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 9. | Голентус І. Е. Ковзна рентгенівська дифракція у неоднорідних кристалічних системах : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / І. Е. Голентус; НАН України, Ін-т металофізики ім. Г.В. Курдюмова. - Київ, 2014. - 16 c. - укp. Побудовано динамічну теорію ковзного розсіяння на поверхневій гратці нанодротів. Встановлено поведінку основних піків і найближчих сателітів залежно від геометрії сканування та параметрів поверхневої гратки. Побудовано теорію проходження рентгенівського випромінення через плоский хвилевід вперте з врахуванням можливості бреггівської дифракції на монокристалічних хвилеводних обкладинках. У порівнянні із випадком без дифракції, показано розширення кута захоплення падаючого на хвилевід випромінення та можливість посилення потоку рентгенівських променів на виході. Для кристала з приповерхневими дефектами типу центрів дилатації запропоновано динамічну модель ковзного дифузного розсіяння. Встановлено динамічні ефекти картин розсіяння. Показано, що шляхом належного вибору кутових параметрів когерентна та дифузна складові розсіяння можуть бути розділені у оберноному просторі. Індекс рубрикатора НБУВ: В371.134.1,022 + В346.34,022 Рубрики: Шифр НБУВ: РА411538 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 10. | Steinczinger Z. An independent, general method for checking consistency between diffraction data and partial radial distribution functions derived from them: the example of liquid water / Z. Steinczinger, L. Pusztai // Condensed Matter Physics. - 2012. - 15, № 2. - С. 23606. - Бібліогр.: 20 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж41279 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 11. | Borcha M. D. Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data / M. D. Borcha, M. S. Solodkyi, S. V. Balovsyak, V. M. Tkach, I. I. Hutsuliak, A. R. Kuzmin, O. O. Tkach, V. P. Kladko, O. Yo. Gudymenko, O. I. Liubchenko, Z. Swiatek // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2019. - 22, № 4. - С. 381-386. - Бібліогр.: 26 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 12. | Borcha M. D. Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data / M. D. Borcha, M. S. Solodkyi, S. V. Balovsyak, V. M. Tkach, I. I. Hutsuliak, A. R. Kuzmin, O. O. Tkach, V. P. Kladko, O. Yo. Gudymenko, O. I. Liubchenko, Z. Swiatek // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2019. - 22, № 4. - С. 381-386. - Бібліогр.: 26 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського