Проаналізовано зміни еліптичності й азимуту поляризації світла в процесі його поширення в активній речовині з наведеною анізотропією. Одержано формули, що пов'язують ці зміни з типом квантового переходу, яскравістю випромінювання й еліптичністю поляризації вхідного сигналу.

Проведены анализ и систематизация вариантов компоновки оптических схем, использующих модулятор поляризации и предназначенных для поляриметрии. Рассмотрена роль модулятора на основе фотоупругого эффекта в зависимости от начального состояния поляризации. Определены условия расположения элементов схемы и особенности измеряемых сигналов, которые позволяют достичь высокой обнаружительной способности по отношению к величине двулучепреломления.

Приведені основні співвідношення, що використовуються для обробки поляриметричних спостережень з одноканальним фотометром-поляриметром, приведений короткий опис приладу.

В работе проанализирована оптическая юстировка фазового компенсатора с недиагональной матрицей Джонса. Получено соотношение, которому удовлетворяют три комплексных параметра компенсатора.

Проведено оптимізацію параметрів поляриметра з метою мінімізації похибки визначення елементів матриці Мюллера досліджуваного об'єкта, коли відомо, що останній належить до класу детермінованих. Мінімізації похибки визначення елементів матриці Мюллера досягнуто шляхом мінімізації числа обумовленості характеристичної матриці системи рівнянь, з якої обчислюються елементи вихідної матриці Мюллера. Мінімізацію числа обумовленості здійснено підбором станів поляризації випромінювання в зондуючому каналі поляриметра. Знайдено мінімальне значення числа обумовленості та набір станів поляризації зондуючого випромінювання, що його забезпечує.

Решена задача рассеяния плоской волны произвольной поляризации тонкой подмагниченной ферритовой пленкой с диэлектрической подложкой. Найдены коэффициенты отражения для поперечной и продольной поляризации, построены графики их зависимости от угла падения плоской волны и параметров пленки.

Індекс рубрикатора НБУВ: В343.5 + Г252.512

Рубрики:

Поляризація світла. Подвійне променезаломлення

Ароматичні кетони

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В343.5

Рубрики:

Поляризація світла. Подвійне променезаломлення

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Розглянуто основні питання відбивної еліпсометрії, зокрема, зв'язок характеристик відбивної системи з поляризаційними параметрами відбитої від системи електромагнітної хвилі для різних моделей відбивної системи - одно-, двошарової, гетерогенних середовищ, середовищ із шорсткими межами поділу. Викладено основи методу фотоелектричної еліпсометрії, алгоритми розрахунку параметрів системи за виміряними значеннями еліпсометричних параметрів. Значну увагу приділено зв'язку оптичних і електронних характеристик системи в області релаксації носіїв заряду, зв'язку енергетичної зонної структури з оптичними властивостями металів, напівпровідників і діелектриків. Наведено результати спектроеліпсометричних досліджень домішкових станів невпорядкованих сплавів, ефектів андерсонівської локалізації електронів у аморфних металевих сплавах, поляритонних ефектів у плівках.

Рассмотрены основные вопросы отражательной эллипсометрии, в частности, связь характеристик отражательной системы с поляризационными параметрами отраженной от системы электромагнитной волны для разных моделей отражательной системы - одно-, двухслойной, гетерогенных сред, сред с шероховатыми границами деления. Изложены основы метода фотоэлектрической эллипсометрии, алгоритмы расчета параметров системы по измеренным значениям эллипсометрических параметров. Значительное внимание уделено связи оптических и электронных характеристик системы в области релаксации носителей заряда, связи энергетической зонной структуры с оптическими свойствами металлов, полупроводников и диэлектриков. Приведены результаты спектроэллипсометрических исследований добавочных состояний неупорядоченных сплавов, эффектов андерсоновской локализации электронов в аморфных металлических сплавах, поляритонных эффектов у пленках.

Індекс рубрикатора НБУВ: В343.5

Рубрики:

Поляризація світла. Подвійне променезаломлення

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Методом відео- та однопроменевої поляриметрії досліджено мікролінзи, виготовлені фотополімеризацією лежачої краплі, на наявність у них оптичних неоднорідностей. Доведено, що застосована технологія забезпечує відсутність залишкових внутрішніх напружень у таких мікролінзах.

Розроблено комбіновану методику вивчення складної поляризаційної структури складних векторних світлових полів, яка базується на прецизійному вимірюванні за допомогою CCD-камери розподілу всіх параметрів Стокса та обчисленні за їх допомогою вихорів комплексного стокс-поля та стаціонарних точок, які в сукупності визначають так званий скелетон поля, що описує основні риси його фазової поверхні. За допомогою цієї методики вперше досліджено сингулярний скелетон складного векторного світлового поля на прикладі спекл-полів, що виникають після проходження однорідно поляризованого лазерного променя крізь багатомодове оптичне волокно.

Розроблено метод виділення матриць недосконалостей, зумовлених наявністю похибок вимірювання, у ході розв'язування оберненої задачі поляриметрії для класів об'єктів з ізотропною деполяризацією на основі їх експериментальних матриць Мюллера. Наведено результати застосування даного методу для ряду експериментальних і модельних матриць Мюллера об'єктів цього класу.

З використанням представлення матриць Мюллера в базисі матриць амплітудної та фазової анізотропії побудовано узагальнений розв'язок оберненої задачі поляриметрії для детермінованого класу об'єктів на основі неповних матриць Мюллера, які вимірюються методом трьох зондуючих поляризацій.

Індекс рубрикатора НБУВ: В343.53

Рубрики:

Поляризаційні прилади

Шифр НБУВ: Ж14846 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Розглянуто голографічний запис в кристалах групи силенітів двома пучками світла, що поширюються в зустрічних напрямках. Досліджено три подібні зразки кристалів BSO, BTO та BGO. Показано, що максимальна амплітуда гратки та максимальна дифракційна здатність спостерігаються для пучків з різним нахилом площини лінійної поляризації, який залежить від сталої оптичної активності та від товщини зразка. Наведено аналітичний вираз для залежності дифракційної здатності гратки від поляризації хвиль, що її записують. Числові розрахунки порівняно з результатами експерименту.

Індекс рубрикатора НБУВ: В343.5

Рубрики:

Поляризація світла. Подвійне променезаломлення

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В343.5

Рубрики:

Поляризація світла. Подвійне променезаломлення

Шифр НБУВ: Ж29409/А Пошук видання у каталогах НБУВ 

Проаналізовано вплив відображення на трансформацію параметрів поляризації електромагнітної хвилі. Досліджено залежність поляризації відбитої хвилі від діелектричної проникності та провідності середовища. Визначено можливість вимірювання їх значень поляриметром через визначені значення кутів падіння.

Знайдено узагальнені залежності пропускання системи поляризатора - аналізатора, які можна використовувати для прецизійного вимірювання ступеня поляризації світла. Запропоновано спосіб обчислення мінімального значення інтенсивності вихідного світла та положення мінімуму системи за допомогою апроксимації результатів експерименту з використанням методу найменших квадратів. Надано результати аналізу поляроїда та двох призм Аренса.