Пошуковий запит: (<.>U=В372.15$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 59
Представлено документи з 1 до 20
|
| | |
| 1. | Ж26988 Булавенко С. Ю. СТМ-зображення залишкових атомів на поверхні Si(111)7 times 7 та можливість дослідження атомів на дні кутових ям [Текст] 43: 11 // Укр. фіз. журн.-С.1465-1468
|
| 2. | Ж14161 Карбовский В. Л. Электронное строение гидроксоапатита кальция, изоморфно-модифицированного ураном [Текст] 25: 11 // Металлофизика и новейшие технологии.-С.1431-1437
|
| 3. | Ж26988 Danilov V. V. Near-field microwave microscope with an annular generator [Текст] 49: 9 // Укр. фіз. журн.-С.926-928
|
| 4. | Ж28852/фіз. Павлишенко Б. Векторизація кластерів на растрових зображеннях електронної мікроскопії [Текст]: Вип. 40 // Вісн. Львів. ун-ту. Сер. фіз.-С.117-121
|
| 5. | Ж69583/Сер.А Румянцев В. В. Естественная оптическая активность молекулярных кристаллов с вакансиями [Текст]: 1 // Вісн. Донец. ун-ту. Сер. А. Природн. науки.-С.232-236
|
| 6. | Ж29137 Зубарев Е. Н. Определение химического состава промежуточных фаз в многослойных структурах Sc/Si при помощи электронной микроскопии поперечных срезов [Текст]: N 739, вип. 9 // Вісн. Харк. нац. ун-ту. Сер. Фізика.-С.141-144
|
| 7. | РА302214 Прядкін С. Л.НАН України. Ін-т металофізики ім. Г.В.Курдюмова. Використання скануючої тунельної мікроскопії для вивчення структури поверхні твердих тіл-провідників [Текст] : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.18.- URL: /ard/1998/
|
| 8. | РА305401 Боркач Є. І.Ужгород. держ. ун-т. Електронно-мікроскопічні дослідження впливу умов отримання на будову складних халькогенідних стекол [Текст] : Автореф. дис... канд. техн. наук : 01.04.10.- URL: /ard/1999/
|
| 9. | РА351267 Марченко О. А.Ін-т фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова НАН України. Сканувальна тунельна мікроскопія органічних молекул на інтерфейсі рідина- тверде тіло [Текст] : Автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук.- URL: /ard/2007/
|
| 10. | РА362037 Сліпченко М. І.Сум. держ. ун-т. Фізичні основи ближньопольової НВЧ діагностики матеріалів і середовищ [Текст] : автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук : 01.04.01.- URL: /ard/2008/
|
| 11. | РА384787 Матієшин Ю. М.Нац. ун-т "Львів. політехніка". Вдосконалення методів та засобів телевізійної сканувальної оптичної мікроскопії динамічних мікрооб'єктів [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.12.17.- URL: /ard/2011/
|
| 12. | РА377684 Черепанов В. В.Нац. акад. наук УкраїниІн-т фізики. Дослідження надтонких органічних плівок методами зондової мікроскопії [Текст] : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.04.- URL: /ard/2010/
|
| 13. | Ж14161 Полуботько Е. А. Приготовление образцов наноразмерных структур для просвечивающей электронной микроскопии [Текст] 31: 6 // Металлофизика и новейшие технологии.-С.805-813
|
| 14. | Ж14161 Карбовский В. Л. Туннельная микроскопия процессов образования гексагонально-пирамидальных наноостровков Au на поверхности монокристалла кремния [Текст] 33: 2 // Металлофизика и новейшие технологии.-С.239-246
|
| 15. | Ж25189 Держипольский А. Г. Просвечивающая электронная микроскопия вчера и сегодня: расширяя границы познаваемого [Текст] 8: 2 // Наука та інновації.-С.39-42
|
| 16. | Ж14159 Цысарь М. А. Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием [Текст] / М. А. Цысарь: 4 // Сверхтвердые материалы.-С.56-66
|
| 17. | ВА761133 Тузяк О. Я. Основи електронної та зондової мікроскопії [Текст] : навч. посіб.
|
| 18. | Ж26618 Галій П. В. Растрова електронна та атомно-силова мікроскопії радіолізу поверхонь плівок CsI при високоінтенсивному електронному опроміненні [] // Фізика і хімія твердого тіла, 2012. т.Т. 13,N № 3.-С.827-835
|
| 19. | Ж16425 Bozhevolnyi S. The exact solution of self-consistent equations in the scanning near-field optic microscopy problem [] // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics, 1999. т.Т. 2,N № 3.-С.45-56
|
| 20. | Ж16425 Morozovska A. N. Modelling of micro- and nanodomain arrays recorded in ferroelectrics-semiconductors by using atomic force microscopy [] // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics, 2006. т.Т. 9,N № 2.-С.26-33
|
| | |
Простий пошук
Віртуальна довідка