1. |
Венгер Є. Ф. Спектроскопія залишкових променів / Є. Ф. Венгер, О. В. Мельничук, Ю. А. Пасічник; НАН України. Ін-т фізики напівпровідників. - К. : Наук. думка, 2001. - 191 c. - Бібліогр.: 261 назв. - укp.Описано методи спектроскопії в області залишкових променів і результати досліджень, проведених на карбіді кремнію, оксиді цинку, сапфірі. Висвітлено основні властивості поверхневих фононних і плазмон-фононних поляритонів у полярних одновісних напівпровідниках та структурах на їх основі. Розглянуто методи діелектричної провідності одновісних полярних напівпровідникових кристалів за наявності змішаних плазмон-фононних збуджень. Наведено результати дослідження тонких плівок оксиду цинку на діелектричних і напівпровідникових підкладках методами інфрачервоної спектроскопії та спектроскопії поверхневих поляритонів. Індекс рубрикатора НБУВ: В344,021
Рубрики:
Шифр НБУВ: ВА613447 Пошук видання у каталогах НБУВ
|