Простий пошук
|
Розширений пошук
|
Алфавітні покажчики
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Віртуальна довідкаТематичний інтернет-навігаторНаукова електронна бібліотекаАвтореферати дисертаційРеферативна база данихКнижкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані видання
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
| Сортувати знайдені документи за: | ||
| автором | назвою | роком видання |
| Формат представлення знайдених документів: | ||
| повний | стислий | |
Пошуковий запит: (<.>A=Mikhailov I$<.>) | |||||
|
Загальна кількість знайдених документів : 17 Представлено документи з 1 до 17 |
|||||
| 1. | Mikhailova T. I. Competition of break-up and dissipative processes in peripheral collisions at Fermi energies = Конкуренція прямих та дисипативних процесів у периферійних реакціях при енергіях Фермі / T. I. Mikhailova, A. G. Artyukh, M. Colonna, M. Di Toro, B. Erdemchimeg, G. Kaminski, I. N. Mikhailov, Yu. M. Sereda, H. H. Wolter // Ядер. фізика та енергетика. - 2009. - 10, № 1. - С. 45-49. - Библиогр.: 14 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж25640 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 2. | Mikhailov I. F. Determination of mass fraction of light elements in crystalline materials by the Compton-to-Rayleigh scattering intensity ratio / I. F. Mikhailov, O. V. Sobol', V. V. Varganov, L. P. Fomina // Functional Materials. - 2002. - 9, № 4. - С. 651-656. - Бібліогр.: 7 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 3. | Mikhailov I. F. Measuring of fullerene molecular form factor in condensed CV60D films / I. F. Mikhailov, V. E. Pukha, O. V. Sobol, V. V. Varganov // Functional Materials. - 2003. - 10, № 2. - С. 266-269. - Бібліогр.: 10 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 4. | Mikhailov I. F. Structure changes in nickel on silicon nano-layers under vacuum ultraviolet irradiation / I. F. Mikhailov, S. S. Borisova, L. P. Fomina, S. V. Malykhin, I. N. Babenko // Functional Materials. - 2006. - 13, № 1. - С. 85-89. - Бібліогр.: 7 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 5. | Mikhailov I. F. VUV stimulated solid-phase reactions on the surface of Ni nano-layers on Si substrate / I. F. Mikhailov, S. V. Malykhin, S. S. Borisova, L. P. Fomina // Functional Materials. - 2006. - 13, № 3. - С. 381-386. - Бібліогр.: 28 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 6. | Kopylets I. A. Multilayer X-ray mirrors Mo - BVB4DC - new crystals-analyzers for wavelength range of 5 to 12 $E bold {roman A back 65 up 45 symbol Р} / I. A. Kopylets, A. A. Baturin, I. F. Mikhailov // Functional Materials. - 2007. - 14, № 3. - С. 392-394. - Бібліогр.: 3 назв. - англ.
| ||||
| 7. | Mikhailov I. F. Contrast enhancement of X-ray fluorescence spectra using the secondary two-layer radiator / I. F. Mikhailov, A. A. Baturin, A. I. Mikhailov, S. S. Borisova // Functional Materials. - 2011. - 18, № 2. - С. 150-155. - Бібліогр.: 4 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 8. | Mikhailov I. F. X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector / I. F. Mikhailov, A. A. Baturin, L. P. Fomina // Functional Materials. - 2010. - 17, № 1. - С. 127-130. - Бібліогр.: 2 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 9. | Mikhailov I. F. High-stable standard samples of mass in the nano-gram range / I. F. Mikhailov, A. A. Baturin, Ye. A. Bugaev, A. I. Mikhailov, S. S. Borisova // Functional Materials. - 2013. - 20, № 2. - С. 266-271. - Бібліогр.: 9 назв. - англ. Досліджено високостабільні еталони мас, одержані за допомогою методу магнетронного осадження надгладких шарів металів на монокристалічні підкладки. Тонкоплівкові еталони відповідають вимогам, які висуваються до державних стандартних зразків: вони стабільні у часі і надають можливість проведення атестації кількома незалежними методами. Забезпечено точність вимірювань маси у діапазоні від 1 до 17 нг не гірше 1 нг, а від 17 до 3800 нг - не гірше 8 нг. Індекс рубрикатора НБУВ: Ж108.3 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 10. | Mikhailov I. I. The investigation of the luminescence properties of colloidal quantum dots based on cadmium chalcogenides / I. I. Mikhailov, S. A. Tarasov, A. V. Solomonov, L. B. Matyushkin, D. S. Mazing // Functional Materials. - 2014. - 21, № 2. - С. 186-189. - Бібліогр.: 7 назв. - англ. Досліджено зразки колоїдних квантових точок (CQDs) селеніду кадмію, синтезованих у водному й органічному середовищах. Показано можливість керування положенням піка люмінесценції за рахунок зміни технологічних параметрів у процесі синтезу, а також продемонстровано різні механізми люмінесценції в CQDs. Синтезовано CQDs на основі селеніду кадмію, покриті неорганічною оболонкою сульфіду кадмію, що надало можливість підвищити інтенсивність люмінесценції у декілька разів. Індекс рубрикатора НБУВ: Г612.4 + В379.13 + В379.24 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 11. | Mikhailov I. F. X-ray method for determination of mineral constituent in solid fuel / I. F. Mikhailov, A. A. Baturin, A. I. Mikhailov // Functional Materials. - 2014. - 21, № 3. - С. 356-359. - Бібліогр.: 5 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 12. | Mikhailov I. F. Perspectives of development of X-ray analysis for material composition = Перспективи розвитку рентгенівського аналізу складу матеріалів / I. F. Mikhailov, A. A. Baturin, A. I. Mikhailov, L. P. Fomina // Functional Materials. - 2016. - 23, № 1. - С. 5-14. - Бібліогр.: 14 назв. - англ. Розглянуто перспективи підвищення чутливості рентгенівського аналізу та розширення діапазону вимірювань в область хімічних елементів з малими атомними номерами шляхом формування з первинного спектра джерела селективного спектра для збудження флуоресценції, а також спостереження піків розсіювання та дифракційних віддзеркалень. Показано, що первинні джерела малої потужності (рентгенівська трубка 20 Вт) можут забезпечувати межу виявлення слідових домішок на рівні 0,1 ppm. Використання потужних пучків первинного рентгенівського випромінювання (СВ, ондуляторів, вігглерів та інше) надасть змогу довести чутливість аналізу до одиниць ppb за збереження всіх переваг рентгенівських методів. Індекс рубрикатора НБУВ: Ж301.1 с383 Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 13. | Mikhailov I. F. Structure of magnetron hydroxyapatite films with small stoichiometry deviation = Структура магнетронних гідроксиапатитних плівок з малим відхиленням від стехіометрії / I. F. Mikhailov, V. V. Starikov, A. A. Baturin // Functional Materials. - 2016. - 23, № 3. - С. 394-397. - Бібліогр.: 8 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 14. | Malykhin S. V. Structure and phase formation features of Ti - Zr - Ni quasicrystalline films under heating = Структурні і фазові особливості формування квазікристалічних плівок Ti - Zr - Ni при нагріванні / S. V. Malykhin, V. V. Kondratenko, I. A. Kopylets, S. V. Surovitskiy, A. A. Baturin, I. F. Mikhailov, M. V. Reshetnyak, S. S. Borisova, Yu. S. Bogdanov // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2019. - 11, № 3. - С. 03009-1-03009-4. - Бібліогр.: 17 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 15. | Mikhailov I. F. Kinetics of phase transitions in highly oriented graphite intercalated with potassium = Кінетика фазових переходів у високоорієнтованому графіті, інтеркальованому калієм / I. F. Mikhailov, E. N. Zubarev, A. I. Mikhailov, V. V. Mamon, S. S. Borisova, S. V. Surovitskiy // Functional Materials. - 2020. - 27, № 3. - С. 497-499. - Бібліогр.: 12 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
| 16. | Malykhin S. V. Features of the initial stage of the formation of Ti - Zr - Ni quasicrystalline thin films = Особливості початкової стадії формування квазікристалічних тонких плівок системи Ti - Zr - Ni / S. V. Malykhin, V. V. Kondratenko, I. A. Kopylets, S. V. Surovitskiy, I. G. Shipkova, I. F. Mikhailov, E. N. Zubarev, Yu. S. Bogdanov // J. of Nano- and Electronic Physics. - 2020. - 12, № 4. - С. 04011-1-04011-6. - Бібліогр.: 20 назв. - англ.
| ||||
Категорія: Фізика | |||||
| 17. | Mikhailov I. F. Application of the Compton effect to solve problems of condensed matter physics = Застосування ефекту Комптона для вирішення задач фізики конденсованого стану / I. F. Mikhailov, O. A. Baturin, A. I. Mikhailov, S. S. Borisova // J. of Nano- and Electronic Physics. - 2022. - 14, № 1. - С. 01031-1-01031-7. - Бібліогр.: 22 назв. - англ. Розглянуто перспективи застосування рентгенівських спектральних методів у нових галузях через використання явища розсіювання, як основи для хімічного та фазового аналізу. Теоретично показано, що чутливість методу розсіювання не залежить від структури та якості поверхні зразка і різко зростає зі зменшенням атомного номеру домішки, що аналізується. Проаналізовано чутливість методу під час дослідження багатокомпонентних стандартів стехіометричного складу на основі H, Li, B, C, O і F, та порівняно її з чутливістю традиційних аналітичних методів. Розраховано концентраційну чутливість виявлення вмісту легких домішок у металах і наведено експериментальне підтвердження для систем титан - водень та залізо - вуглець. Вперше метод Комптона узагальнено для аналізу багатокомпонентних систем невідомого складу. Для цього, з використанням підходу [13], введено поняття ефективного атомного номеру за властивістю розсіювання. Показано, що залежність ефективного атомного номеру від параметру х, що віддзеркалює умови зйомки (кут розсіювання та довжину хвилі первинного випромінювання), однозначно визначає багатокомпонентну сполуку. На підставі аналізу чутливості обгрунтовано діапазон застосування методу розсіювання. З боку малих значень параметру x, метод обмежується брегівськими відбиттями, що накладаються на релєєвський пік. За великих значень параметру x, чутливість методу погіршується через велику розбіжність між інтенсивністю когерентного і некогерентного розсіювання. Наведено приклади вирішення аналітичних завдань, при яких використання рентгенофлуоресцентного та дифракційного аналізу або сильно ускладнено, або взагалі неможливо. Індекс рубрикатора НБУВ: В369 в734.5 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського