 Віртуальна довідка Тематичний інтернет-навігатор Наукова електронна бібліотека Автореферати дисертацій Реферативна база даних Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox" |
|
|
| Формат представлення знайдених документів: | | повний | стислий |
Пошуковий запит: (<.>U=В372.15,022$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
| | | | | |
| 1. |
| Ж42214/2012/26 |
Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf .
Wissenschaftlich-Technische Berichte [HZDR] [Text] / Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf . - Dresden : HZDR. - ISSN 2191-8708.
№ 26 : Quantitative dopant profiling in semiconductors: a new approach to Kelvin probe force microscopy / Christine Baumgart. - Dresden : HZDR, 2012. - 151 p. : fig., tab. (Wissenschaftlich-Technische Berichte [HZDR], ISSN 2191-8708 ; № 26). - Рез. нім. - Бібліогр.: с. 131-144
Рубрики:
|
2012 | | № 26
|
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
|
Простий пошук
