Простий пошук
Розширений пошук
Алфавітні покажчики

Бази даних

Журнали та продовжувані видання - результати пошуку

Віртуальна довідка
Тематичний інтернет-навігатор
Наукова електронна бібліотека
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком видання
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
 Знайдено в інших БД:Наукова електронна бібліотека (2)Автореферати дисертацій (12)Реферативна база даних (182)Книжкові видання та компакт-диски (132)
Пошуковий запит: (<.>U=В338.2$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 16
Представлено документи з 1 до 16
      
Категорія: Фізико-математичні науки   
1.
Ж43011

Journal of electron microscopy, Tokyo.- Отримується з 2006.
      
Категорія: Фізико-математичні науки   
2.
Ж43011/2007/56/1
Journal of electron microscopy.- Tokyo.- Отримується з 2006.
2007
Vol. 56
№ 1

Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
3.
Ж43011/2007/56/2
Journal of electron microscopy.- Tokyo.- Отримується з 2006.
2007
Vol. 56
№ 2

Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
4.
Ж43011/2007/56/3
Journal of electron microscopy.- Tokyo.- Отримується з 2006.
2007
Vol. 56
№ 3

Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
5.
Ж43011/2007/56/4
Journal of electron microscopy.- Tokyo.- Отримується з 2006.
2007
Vol. 56
№ 4

Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
6.
Ж43011/2007/56/5
Journal of electron microscopy.- Tokyo.- Отримується з 2006.
2007
Vol. 56
№ 5

Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
7.
Ж43011/2007/56/6
Journal of electron microscopy.- Tokyo.- Отримується з 2006.
2007
Vol. 56
№ 6

Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
8.
Ж43011/2006/55/1
Journal of electron microscopy.- Tokyo.- Отримується з 2006.
2006
Vol. 55
№ 1

Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
9.
Ж43011/2006/55/2
Journal of electron microscopy.- Tokyo.- Отримується з 2006.
2006
Vol. 55
№ 2

Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
10.
Ж43011/2006/55/3
Journal of electron microscopy.- Tokyo.- Отримується з 2006.
2006
Vol. 55
№ 3

Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
11.
Ж43011/2006/55/4
Journal of electron microscopy.- Tokyo.- Отримується з 2006.
2006
Vol. 55
№ 4

Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
12.
Ж43011/2006/55/5
Journal of electron microscopy.- Tokyo.- Отримується з 2006.
2006
Vol. 55
№ 5

Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
13.
Ж43011/2006/55/6
Journal of electron microscopy.- Tokyo.- Отримується з 2006.
2006
Vol. 55
№ 6

Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
14.
Ж41350:F/2003/47
Physikalisch-Technische Bundesanstalt.
Bericht [Physikalisch- Technische Bundesanstalt (PTB-Bericht F)], Ser.F, Fertigungsmeßtechnik [Text] / Physikalisch-Technische Bundesanstalt. - Braunschweig. - ISSN 0179-0609.
2003, №47 : Entwicklung eines kombinierten Nahfeldmikroskopie- und -spektroskopiesystems : Bericht über das BMBF-Vorhaben 13N7643/6 / C. Dal Savio [и др.]. - Braunschweig : [б.в.], 2003. - 94 S.: Ill. (Bericht [Physikalisch- Technische Bundesanstalt (PTB-Bericht F)], Ser.F Fertigungsmeßtechnik, ISSN 0179-0609 ; 2003, №47). - Bibliogr.: S.93-94. - ISBN 3-86509-064-8

Рубрики:
 Спектроскопія 
 Електронні і іонні мікроскопи 




2003
№ 47

Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
15.
Ж41350:F/2000/39
Physikalisch-Technische Bundesanstalt.
Bericht [Physikalisch- Technische Bundesanstalt (PTB-Bericht F)], Ser.F, Fertigungsmeßtechnik [Text] / Physikalisch-Technische Bundesanstalt. - Braunschweig. - ISSN 0179-0609.
2000, №39 : Proceedings of the 4th Seminar on Quantitative Microscopy QM 2000 : deminsional measurements in the micro- and nanometre... / Seminar on Quantitative Microscopy QM 2000 (4, Semmering, 2000) ; ред. K. Hasche. - Braunschweig : [б.в.], 2000. - 225 p.: ill. (Bericht [Physikalisch- Technische Bundesanstalt (PTB-Bericht F)], Ser.F Fertigungsmeßtechnik, ISSN 0179-0609 ; 2000, №39). - Bibliogr. v kinci st. - ISBN 3-89701-503-X
Rez. ger.

Рубрики:
 Електронні і іонні мікроскопи 

Географічні рубрики:
 Австрія 




2000
№ 39

Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
16.
Ж42845/2008/30
Zeitgeschichtliche Forschungen [Text]. - Berlin : Duncker & Humblot. - ISSN 1438-2326.
2008, Bd.30 : Manfred von Ardenne : Selbstverwirklichung im Jahrhundert der Diktaturen / G. Barkleit. - Berlin : Duncker & Humblot, 2008. - 397 S.: Ill. (Zeitgeschichtliche Forschungen, ISSN 1438-2326 ; 2008, Bd.30). - Bibliogr. v kintsi st. - ISBN 978-3-428-12790-0

Рубрики:
 Електронні і іонні мікроскопи 
 Телебачення 

Географічні рубрики:
 Німеччина 




2008
Bd. 30

Видання зберігається у :
Основний фонд

 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського