Пошуковий запит: (<.>U=З852-021.1$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 4
Представлено документи з 1 до 4
|
|
| | |
|
1. | РА291346сл
Миленин, Григорий Владимирович. Деградация полупроводниковых изделий при зарядовой нестабильности и электрохимической коррозии [Текст] : автореф. дис... канд. техн. наук: 05.27.01 / Миленин Григорий Владимирович ; АН УССР, Ин-т полупроводников. - К., 1990. - 16 с. Для сл. пользования
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | |
|
2. | Р81365
Методичні вказівки до розрахунку надійності напівпровідникових і мікроелектронних приладів при курсовому і дипломному проектуванні [Текст] : для студ. спец. 7.090803 - "Мікроелектроніка і напівпровідникові прилади" ступеневої підготовки спеціалістів з вищою технічною освітою / Вінницький держ. технічний ун-т ; уклад. І. В. Федун. - Вінниця : [б.в.], 1997. - 28 с.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | |
|
3. | РА401245
Мазурок, Наталія Степанівна. Фізико-статистичний метод визначення надійності виробів твердотільної електроніки [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / Мазурок Наталія Степанівна ; Нац. техн. ун-т України "Київ. політехн. ін-т". - К., 2013. - 20 с. : рис., табл.
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | |
|
4. | ДС140589
Мазурок, Наталия Степановна. Физико-статистический метод определения надежности изделий твердотельной электроники [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / Мазурок Наталия Степановна ; Нац. техн. ун-т Украины "Киев. политехн. ин-т". - Киев, 2013. - 136, [2] л. : рис., табл. - Бібліогр.: арк. 120-132.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |