Розроблено динамічну модель, що дозволила вперше теоретично здійснювати комбіноване (за Бреггом та Лауе) трикристальне картографування розподілу як бреггівської, так і дифузної складових картини розсіяння від недосконалих кристалів з урахуванням не тільки далеких (область розсіяння Хуаня - Кривоглаза), а й близьких (область розсіяння Стокса - Вільсона) полів зміщень атомів кристала навколо центрів дефектів, у такому разі без обмежень на розміри останніх. Проведено аналітичне врахування вертикальної розбіжності променів. Враховано ефекти анізотропії полів зміщень атомів матриці, спричинених несферично симетричними виділено зорієнтованими дефектами. Запропоновано новий метод трикристальної дифузно динамічної комбінованої дифрактометрії, який за рахунок зміни умов динамічної дифракції забезпечує однозначну багатопараметричну діагностику одночасно багатьох типів дефектів.

  Скачати повний текст