Запропоновано нову модель мультипроцесорної системи аналізу якості тестів, яка дозволяє виконувати розпаралелювання та часткової конвеєризації обробки примітивів проектованого цифрового виробу, що дає змогу у десятки разів зменшити тривалість циклу моделювання несправностей проектованого пристрою. Удосконалено структурно-функціональні моделі секвенсерів (процесора) для розв'язання задач дедуктивно-паралельного моделювання несправностей з метою обробки дедуктивних примітивів регистрового та вентильного рівня. Наведені моделі дозволяють у сотні разів підвищити швидкодію аналізу дедуктивних компонентів проекту у порівнянні з програмною реалізацією методу.

  Скачати повний текст