Уперше запропоновано оптимальну схему вимірювання анізотропних характеристик однорідних середовищ у вигляді частини їх матриці Мюллера з використанням лінійно поляризованого зондуючого випромінювання з трьома різними азимутами орієнтації площини поляризації. Доведено, що частина елементів матриці Мюллера, яка вимірюється у запропонованій схемі, повністю описує анізотропні характеристики однорідних середовищ. Одержано загальний вигляд для матриці Мюллера однорідних анізотропних середовищ у термінах параметрів лінійної фазової, кругової фазової, лінійної амплітудної та кругової амплітудної анізотропії, для заданого порядку їх слідування. Одержано вирази для розрахунку цих параметрів з використанням елементів матриці Мюллера середовища.

  Скачати повний текст