Запропоновано структурно-функціональний метод аналізу тестопридатності цифрових систем на кристалах, що передбачає врахування типології схеми вентильного та регістрового рівнів і дозволяє виконувати оцінку якості проектів великої розмірності (до 1 000 000 еквівалентних вентилів) з підвищеною точністю. Розроблено функціональну сильнозв'язну трикомпонентну модель "тест - дефекти - виходи" тестування цифрових систем на кристалах, за якої необхідно вводити додаткові лінії спостереження та є можливою мінімізація довжини тесту та кількості спостережуваних ліній, а також розв'язання задач генерування тестів і аналізу їх якості на підставі межового сканування критичних внутрішніх ліній. Створено неітеративну модель діагностування цифрових систем на кристалах на базі технології межового сканування, що характеризується одноразовим виконанням процедури уточнення дефекту та можливістю одночасного спостереження всіх необхідних для діагнозу ліній і дозволяє суттєво підвищити ступінь пошуку дефектів на перевіряльному тесті без збільшення кількості виходів схеми. Удосконалено модель процесу вибору контрольних точок схеми, що можна використовувати за вентрильних і регістрових структур. Наведена модель дозволяє виконувати модифікацію комбінаційних і послідовнісних, асинхронних і синхронних проектів великої розмірності з метою підвищення їх тестопридатності у середньому на 20 %. Розвинуто П-метод синтезу кубічних покрить цифрових проектів, який передбачає введення додаткового етапу обробки сильнопослідовнісних схем і дозволяє підвищити тестопридатність цифрового проекту за рахунок точного структурно-функціонального аналізу керованості та спостережуваності ліній типових схем невеликої розмірності (IP-cores) регістрового рівня, для їх наступного багаторазового використання як компонентів SoC.

  Скачати повний текст