Дисертацію присвячено питанням розвитку тестового комбінованого діагностування сучасних мікропроцесорних пристроїв. Запропоновано нову структурно-поведінкову модель мікропроцесорних пристроїв, який характеризується паралельним хвильовим алгоритмом розповсюдження проявів несправностей. З метою їх розповсюдження через вузли моделі або сукупність вузлів використано розв'язки невизначених (діофантових) рівнянь або їх систем, одержаних в процесі аналізу програмних модулів вузлів. Наведено способи запобігання конфліктів, що виникають під час побудови тестів, згідно з багатоаспектним методом. На основі нечітких відношень складових моделі розроблено метод мінімізації кількості тестової інформації. Основні результати дослідження використано для створення підсистеми генерації тестів, що дозволило спростити структуру та розширити функціональні можливості програмного забезпечення систем комбінованого діагностування, підвищити достовірність пошуку несправностей та ефективність систем тестового комбінованого діагностування.

  Скачати повний текст

Розроблено моделі бази знань та архітектури експертної системи діагностування (ЕСД) цифрових і мікропроцесорних пристроїв. Досліджено модель інформаційного образу та комбіновану функціонально-експертну модель мікропроцесорних пристроїв як об'єктів діагностування. Описано структуру й алгоритми функціонування модулів експертної системи діагностування та методики здобуття знань. На базі моделі інформаційного образу та комбінованої функціонально-експертної моделі наведено стратегії діагностування цифрових і мікропроцесорних пристроїв. Розглянуто програмний комплекс модулів експертної системи діагностування. Запропоновано шляхи підвищення ефективності процесу діагностування за рахунок опрацювання експертних знань щодо об'єктів діагностування. Удосконалено методику самонавчання ЕСД, під час якої сама система в процесі накопичення та опрацювання нею знань експертів-діагностів і статистичної інформації сприяє коригуванню стратегій та алгоритмів діагностування.

  Скачати повний текст

Розроблено метод виявлення динамічних несправностей цифрових та мікропроцесорних пристроїв з компонентами, побудованими за КМДН-технологією, зокрема програмно-апаратних виявлень. Описано математичні моделі, метод, методики та засоби, орієнтовані на автоматизацію і підвищення достовірності та ефективності процедур тестового комбінованого діагностування виявлення динамічних несправностей цифрових та мікропроцесорних пристроїв з компонентами, побудованими за КМДН-технологією.

  Скачати повний текст