Віртуальна довідка Тематичний інтернет-навігатор Наукова електронна бібліотека Автореферати дисертацій Реферативна база даних Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Формат представлення знайдених документів: | повний | стислий |
Пошуковий запит: (<.>A=Солодкий М$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 2
Представлено документи з 1 до 2
|
| | | | |
1. |
Солодкий М. С. Багатохвильові спектри розсіяння Х-променів та електронів у складних кристалічних з'єднаннях / М. С. Солодкий. — Б.м., 2021 — укp.Дисертація присвячена дослідженню структурних неоднорідностей напівпровідникових гетероструктур, багатошарових систем, моно- і полікристалів методами багатохвильової Х-променевої дифрактометрії та дифракції зворотно-розсіяних електронів. Запропоновано підходи для визначення профілів деформації з аналізу багатохвильових дифрактограм Х-променів (φ-скани) та електронів (картини Кікучі). Встановлено взаємозв'язок між змінами багатохвильових спектрів з особливостями будови кристалів різного походження.^UThe dissertation is devoted to the investigation of structural inhomogeneities of semiconductor heterostructures, multi-layerd systems, single crystals and polycrystals by the methods of multi-beam X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction. Approaches for determining deformation profiles by the analysis of multi-beam X-ray (φ-scans) and electron (Kikuchi patterns) diffraction patterns are proposed. The relationship between changes in multi-beam spectra and structural features of crystals of different origins has been established. Шифр НБУВ: 05 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
| | | | |
2. |
Солодкий М. С. Багатохвильові спектри розсіяння Х-променів та електронів у складних кристалічних з'єднаннях / М. С. Солодкий. — Б.м., 2021 — укp.Дисертація присвячена дослідженню структурних неоднорідностей напівпровідникових гетероструктур, багатошарових систем, моно- і полікристалів методами багатохвильової Х-променевої дифрактометрії та дифракції зворотно-розсіяних електронів. Запропоновано підходи для визначення профілів деформації з аналізу багатохвильових дифрактограм Х-променів (φ-скани) та електронів (картини Кікучі). Встановлено взаємозв'язок між змінами багатохвильових спектрів з особливостями будови кристалів різного походження.^UThe dissertation is devoted to the investigation of structural inhomogeneities of semiconductor heterostructures, multi-layerd systems, single crystals and polycrystals by the methods of multi-beam X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction. Approaches for determining deformation profiles by the analysis of multi-beam X-ray (φ-scans) and electron (Kikuchi patterns) diffraction patterns are proposed. The relationship between changes in multi-beam spectra and structural features of crystals of different origins has been established. Шифр НБУВ: 05 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
|