Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>ID=20110505006277<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
| Мельник А. В. Динамічні ефекти асиметрії залежностей інтегральних інтенсивностей розсіяння у кристалах з дефектами від умов дифракції : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / А. В. Мельник ; Ін-т металофізики ім. Г.В.Курдюмова НАН України. — К., 2010. — 23 с. — укp.Побудовано динамічну модель фактора асиметрії повних інтегральних інтенсивностей (ПІІ) для відбиттів різних знаків у випадку Лауе-дифракції із врахуванням внеску дифузної складової ПІІ. На цій базі створено новий метод діагностики мікродефектів. Вперше експериментально встановлено асиметрію азимутальної залежності нормованої ПІІ монокристала з дефектами у випадку дифракції за Бреггом. На підставі встановлених та описаних з врахуванням дифузного розсіяння ефектів асиметрії вказаних залежностей ПІІ від умов динамічної дифракції створено комбіновані методи інтегральної рентгенодифракційної діагностики декількох типів дефектів, одночасно присутніх у кристалах, що базуються на спільній обробці експериментальних даних, одержаних за різних умов динамічної дифракції, а саме, на спільній обробці результатів вимірювань азимутальних залежностей ПІІ для рефлексів з різними значеннями вектора дифракції. Завантажити Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134,022 + В372.31,022 Шифр НБУВ: РА373261 Пошук видання у каталогах НБУВ
Рубрики:
|
|
|