Наведено метод встановлення абсолютних значень періодів гратки кристалів за допомогою багатохвильої дифрактометрії. На базі напівкінематичної теорії розсіяння X-променів запропоновано алгоритм і програмне забезпечення для розрахунку та графічного представлення багатохвильових дифрактограм азимутального сканування кристала навколо вектора дифракції первинного відбивання в кристалах різного ступеня досконалості. Розроблено спеціальні пристрої для підвищення роздільної здатності, експресивності та інформативності дифрактометричних X-променевих методів діагностики реальної структури кристалів.

  Завантажити