Дисертаційна робота присвячена розробці методики математично визна-ченої кількісної характеризації структури матеріала за його електронно-мікроскопічним зображенням.У роботі виконана адаптація математичної моделі мультифрактальногоформалізму для визначення кількісних характеристик зображень структури ма-теріалів, і на її основі розроблено відповідне програмне забезпечення, яке даєстійкі результати їх обчислень. Висока продуктивність розробленого програм-ного забезпечення допускає принципову можливість включення її до існуючихпрограмних пакетів обробки електронно-мікроскопічних зображень в режиміреального часу, в тому числі до програмного забезпечення, яке вбудовано в еле-ктронні мікроскопи.За допомогою представленої методики з метою верифікації моделей і роз-робленого програмного забезпечення проведено дослідження отриманих муль-тифрактальних і фізичних характеристик гарячепресованих композитів AlB12–AlN, яке дозволяє зробити важливий висновок про те, що з фізичними характе-ристиками можуть бути пов'язані не тільки мультифрактальнi характеристикизображень структури фаз, але і мультифрактальнi характеристики виділених наних систем границь (границь зерен, границь фаз — в залежності від досліджу-ваного матеріалу). Отримано результати розрахунків фрактальних характерис-тик плівок хрому, осаджених в аргоні при зміні температури осадження та взалежності від доданків кисню. Показана наявність кореляції фрактальної роз-мірності та фізичних характеристик плівок хрому — твердістю H та наведениммодулем пружності (1 2 ) r E = E − ν . Досить високий ступінь кореляції спостері-гається як при обчисленнях фрактальної розмірності площини фотографій, так ідля систем виділених границь.Ключові слова: електронно-мікроскопічне зображення, структура ма-теріалу, межи зерен, кількісна характеризація, фрактальна розмірність, му-льтифрактальні характеристики.

Постачальник даних: УкрІНТЕІ (Український Інститут науково-технічної експертизи та Інформації)

  Завантажити автореферат